技術編號:3414883
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種化學機械研磨機的檢測裝置,尤其涉及一種研磨墊磨損狀況檢測>J-U裝直。背景技術隨著組件尺寸持續(xù)縮減,微影曝光分辨率相對增加,伴隨著曝光景深的縮減,對于芯片表面的高低起伏程度的要求更為嚴苛。因此在進入深次微米的制程時,芯片的平坦化就依賴化學機械研磨制程來完成,它獨特的非等向性磨除性質除了用于芯片表面輪廓的平坦化之外,亦可應用于垂直及水平金屬內聯(lián)機的鑲嵌結構的制作、前段制程中組件淺溝渠隔離制作及先進組件的制作、微機電系統(tǒng)平坦化和平面顯示器制...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。