技術(shù)編號：3255
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型屬于一種測量和測試裝置。隨著光學技術(shù)的迅速發(fā)展，對光學系統(tǒng)的要求也越來越高，為了制造一個高質(zhì)量的光學系統(tǒng)，除了其它各項參數(shù)要求外，對光學系統(tǒng)中各光學元件的厚度及其表面粗糙度的要求也越來越高，它們的厚度制造誤差往往只有幾微米。至今國內(nèi)對光學元件厚度傳統(tǒng)的測量方法是接觸式測量。由于量具測量頭和被測件之間的襯墊物有彈性變形，不能保證有高的測量精度也易于損傷光學表面的光潔度。日本鶴田君(Tsuruta)曾提出利用補償色散的邁克爾遜(Michelson)干涉儀白光牛頓環(huán)定位方法來測量透鏡的厚度，在干涉儀的一臂上裝上...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。