技術(shù)編號(hào)：29539
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。專利摘要本實(shí)用新型公開了一種一維聚焦光學(xué)系統(tǒng)和一種氣體中懸浮顆粒物的檢測裝置，其中，所述系統(tǒng)包括半導(dǎo)體激光源，半導(dǎo)體激光源用于發(fā)射激光束；以及與半導(dǎo)體激光源同軸設(shè)置的光學(xué)透鏡，光學(xué)透鏡用于將激光束導(dǎo)向至光敏區(qū)，其中，光學(xué)透鏡具有光源面和出光面，光源面為旋轉(zhuǎn)軸對(duì)稱凸非球面，出光面為凸非球面柱面。本實(shí)用新型的一維聚焦光學(xué)系統(tǒng)，使得光敏區(qū)的光強(qiáng)分布趨于均勻，采用單個(gè)透鏡實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體激光束的一維聚焦，減少了光學(xué)元件的數(shù)量，降低了成本，且在光學(xué)系統(tǒng)小型化的基礎(chǔ)上增長光學(xué)透鏡的后焦距，從而具有在縱向較長的光敏區(qū)，使得光學(xué)系統(tǒng)具有...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。