技術編號：2922017
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種新型的透射電子顯微鏡物鏡光闌的設計及其成像實驗方法，用以提透射電鏡高分辨像的信噪比和分辨率，屬于材料結構分析與檢測。背景技術透射電子顯微鏡高分辨像是對材料內部周期性晶體結構進行直接成像的一種電子顯微分析方法，其成像過程遵循“阿貝成像原理”。附圖1所示是透射電子顯微鏡高分辨像成像過程的兩個階段。一是透射電鏡中產(chǎn)生的平行電子束穿過薄晶體時，受到晶體內部周期性結構(晶面)的散射，分裂成多級衍射束，在透射電鏡后焦面上形成衍射譜；二是衍射譜上的各級衍射...
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