技術(shù)編號(hào)：2910382
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及質(zhì)譜儀和用于質(zhì)譜分析的方法，它包括用于提供分析物離子的等離子體源。等離子體源可以是電感耦合等離子體(ICP)、微波感應(yīng)等離子體(MIP)或其它適當(dāng)?shù)牡入x子體源。背景技術(shù) 元素質(zhì)譜法中的一個(gè)問(wèn)題是具有與被測(cè)量的同位素相同質(zhì)量的多原子和多電荷離子的存在。例如，保持在氬、氬基的干擾離子、例如Ar+、Ar2+、ArO+、ArOH+中的等離子體內(nèi)具有與Ca、Fe、Se的同位素的質(zhì)量重疊的質(zhì)量，這致使難以得到關(guān)于這些同位素的跟蹤量的可靠分析結(jié)果。用于衰減干擾...
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