技術編號：2806337
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明是一種測定光彈性主應力方向的方法。光彈性主應力方向的精確測定，是長期以來人們普遍關注的一個難題。美國Vishay公司研制的401系列，在逐點測定主應力方向時有漂移現(xiàn)象。北京大學張遠鵬等人提出的利用光電調制原理的測定方法，有較高的靈敏度，但只能用于逐點測試，不能用于全場測試，應用上有局限性。偏光顯微鏡價格昂貴，使用不便，推廣受到限制。本發(fā)明的目的是提供一種既可適用于逐點測試，又可適用于全場測試的精確、方便地測定主應力方向的方法。本發(fā)明提出的方法，是把被...
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