技術(shù)編號(hào)：2791516
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種基于一維光子晶體缺陷模的光纖溫度探測(cè)器，應(yīng)用于強(qiáng)電磁場(chǎng)、 易燃易爆、長(zhǎng)距離環(huán)境下的溫度探測(cè)。背景技術(shù)溫度是科學(xué)技術(shù)中最基本的物理量之一，也是工業(yè)生產(chǎn)中最普遍最重要的參數(shù)之一。溫度檢測(cè)在現(xiàn)代工業(yè)系統(tǒng)和工程應(yīng)用中占有十分重要的地位。隨著光纖通信技術(shù)的飛速發(fā)展，光無源器件技術(shù)的日益成熟，光纖溫度探測(cè)器獲得了廣泛的應(yīng)用?，F(xiàn)有的光纖溫度探測(cè)器大多通過在光纖探頭上蒸鍍傳統(tǒng)的多層膜實(shí)現(xiàn)，溫度探測(cè)的靈敏度和精度都不是很高。目前對(duì)光纖溫度探測(cè)器的研究主要集中在...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。