技術(shù)編號(hào):2778295
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及在半導(dǎo)體襯底或液晶顯示裝置(LCD)基板的表面上例如形成涂敷型薄膜用的膜形成方法,以及在膜形成方法中使用的成膜裝置。背景技術(shù) 近年來(lái),對(duì)LSI的高集成化的要求越來(lái)越高,伴隨于此,在半導(dǎo)體光刻技術(shù)中要求形成小于等于100nm的微細(xì)的器件圖形那樣的精度非常高的加工技術(shù)。因此,在圖形曝光裝置中,通過(guò)從KrF→ArF→F2那樣實(shí)現(xiàn)在曝光中使用的受激準(zhǔn)分子激光器的波長(zhǎng)的短波長(zhǎng)化,使解像度不斷地提高。另一方面,隨著微細(xì)化的進(jìn)展,不能忽視抗蝕劑膜的圖形倒塌。因...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。