技術(shù)編號(hào)：2732734
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種基板測(cè)試電路，尤其涉及一種對(duì)液晶顯示器的陣列基板 上的信號(hào)進(jìn)行測(cè)試的電路。背景技術(shù)在現(xiàn)有的薄膜晶體管(ThinFilm Transistor,以下簡(jiǎn)稱TFT)液晶顯 示器的制造過程中，包括一陣列工藝階段，在該階段中形成陣列基板，陣 列基板上具有若干獨(dú)立的TFT像素陣列電路。當(dāng)沉積形成像素陣列后需要 對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)。具體的測(cè)試方法是預(yù)先將用來輸入測(cè)試信號(hào)的測(cè)試電路隨 像素陣列一起沉積集成到玻璃基板上，其中，測(cè)試電路位于每個(gè)像素區(qū)域 的周邊。測(cè)試完...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。