技術(shù)編號：2727597
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于光學(xué)檢驗中的一種對凸非球面面型的檢驗設(shè)備。背景技術(shù)某些光學(xué)非球面鏡片，在光學(xué)系統(tǒng)中能消除像差和畸變，同時能大大簡化光學(xué)系統(tǒng)，提高成像質(zhì)量，因此，對非球面加工的面型質(zhì)量引起光學(xué)界的極大關(guān)注，對光學(xué)非球面面型的檢驗工作，成為光學(xué)冷加工方面的重要工作環(huán)節(jié)。據(jù)了解在檢驗非球面面型的干涉儀中，國內(nèi)外已有若干種形式存在，本實(shí)用新型涉及的是對凸非球面面型的檢驗，與本實(shí)用新型最為接近的已有技術(shù)是美國亞利桑那大學(xué)天文實(shí)驗室研制的凸非球面檢驗干涉儀(SPIE V...
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