技術編號：2704381
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于光學工程領域，涉及。本發(fā)明可在不影響全息圖質量的前提下，采用觀察參考光路和物光光路在遠處白板上的投影，對空間濾波器進行粗調；然后利用固定好高度的可變光闌對所述的空間濾波器進行微調；利用粗調和微調的方法對以后的器件分別進行調節(jié)，最后達到參考光路和物光光路能夠產生明顯的明暗相間的干涉條紋的效果。通過本發(fā)明所提供的方法，可在不增加硬件成本的基礎上，彌補現有光路搭建方法的不足，節(jié)約調整參考光路和物光光路高度以及搭建整個光路所花費的時間。專利說明[0001...
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