技術(shù)編號:2698125
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種通過相干光和數(shù)字全息術(shù)來檢測空間構(gòu)成的樣品體的方法。本發(fā)明還涉及一種根據(jù)光學(xué)相干斷層掃描分析樣品深度結(jié)構(gòu)的方法。專利說明[0001]本發(fā)明涉及一種通過相干光和數(shù)字全息術(shù)(DH)檢測空間構(gòu)成的樣品體的方法。本發(fā)明還涉及一種根據(jù)光學(xué)相干斷層掃描(OTC)分析樣品深度結(jié)構(gòu)的方法。背景技術(shù)[0002]全息技術(shù)涉及使用相干光(特別是激光)的物體三維成像。其中光線被分束器分到樣品和參考分支里,其中樣品光束照亮樣品。被樣品以不同距離反射或反向散射的光線被引...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。