技術(shù)編號:2612806
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種,尤其涉及一種用于防止由于意外地施加于基板的電壓、靜電和外力而引起薄膜晶體管損壞的。背景技術(shù) 通常,為了在通過利用不銹鋼(SUS)或鈦(Ti)組成的導(dǎo)電基板形成的導(dǎo)電薄膜上實(shí)現(xiàn)薄膜晶體管,在導(dǎo)電薄膜和薄膜晶體管之間需要一緩沖層作為絕緣層。因此,形成在包括緩沖層的導(dǎo)電薄膜上的薄膜晶體管具有與絕緣體上硅(SOI)晶體管相同的電學(xué)和結(jié)構(gòu)特性。在具有緩沖層的薄膜晶體管中,形成薄膜晶體管的半導(dǎo)體層可由低溫多晶硅(LTPS)制成,其中在低溫下加熱并結(jié)晶非...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。