技術(shù)編號：12922132
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及光學(xué)檢測設(shè)備領(lǐng)域，具體涉及一種用于AOI檢測設(shè)備的光源結(jié)構(gòu)。背景技術(shù)在電子生產(chǎn)、SMT表面貼裝等領(lǐng)域的整個生產(chǎn)過程中，都需要對涉及的電子元件、貼片等進(jìn)行外觀的品質(zhì)檢測和質(zhì)量管控，通過光源的照射來檢測元件、貼片表面是否存在缺陷，以排除不符合標(biāo)準(zhǔn)的元件、貼片，避免后期返工的浪費(fèi)，而現(xiàn)有的AOI光源裝置，多采用LED作為光源照射。而現(xiàn)有的光源結(jié)構(gòu)在用于較為平整的PCB板檢測時，其能保證較好的檢測效果，但是當(dāng)其用于鍍金或鍍鋅等凹凸不平的板面時，其容易由于產(chǎn)生漫反射而導(dǎo)致檢測效果不佳。實(shí)用新...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。