技術(shù)編號：12915058
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及粒子散射相函數(shù)的測量裝置及測量方法。背景技術(shù)粒子的散射相函數(shù)與吸收系數(shù)、散射系數(shù)等構(gòu)成顆粒彌散介質(zhì)的基本輻射特性參數(shù)，在大氣遙感、海洋光學、燃燒過程模擬、光生物反應器、太陽能利用等涉及顆粒彌散介質(zhì)輻射傳輸?shù)念I(lǐng)域均有重要應用。粒子散射相函數(shù)的測量有間接測量和直接測量兩種方法。間接測量方法一般基于輻射傳遞正問題的求解結(jié)合反演算法獲得散射相函數(shù)。這種方法需要事先假定散射相函數(shù)的參數(shù)化模型，一般不能得到顆粒的準確散射相函數(shù)。對于直接測量方法，一般通過周向布置的探測器來進行測量，通過探測器檢測不...
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