技術編號：12914966
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及測試技術領域，特別涉及一種測試終端的方法及系統。背景技術在終端的研發(fā)后期經常會產生軟件類低概率問題，例如測試中不易復現且快速消失的不良現象。若因測試過程中未能及時發(fā)現此類低概率問題，使不良產品流入市場，會對用戶的使用和品牌造成影響。本申請的發(fā)明人在長期的研發(fā)中發(fā)現，目前終端的測試主要通過多次復現測試過程以發(fā)現此類低概率問題，耗費大量的時間和人力，延長測試過程，且通過復現發(fā)現低概率問題的結果并不精確。發(fā)明內容本發(fā)明主要解決的技術問題是提供一種測試終端的方法及系統，能夠精準、及時地發(fā)現軟件...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。