技術(shù)編號(hào)：12905069
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電阻掃描測(cè)量?jī)x器領(lǐng)域，尤其是一種用于消除掃描測(cè)試線圈電阻時(shí)反向電動(dòng)勢(shì)的方法及裝置。背景技術(shù)針對(duì)當(dāng)前對(duì)直流電阻測(cè)量的測(cè)量速度要求越來(lái)越高的的市場(chǎng)需求，不斷有新的直流電阻掃描測(cè)量?jī)x出現(xiàn)在市場(chǎng)上，這些儀器功能上略有差別，但硬件架構(gòu)卻基本相同(見附圖1)。其硬件框架均由參考電壓電路和源電路產(chǎn)生一個(gè)恒流流經(jīng)被測(cè)件，在一段延時(shí)信號(hào)穩(wěn)定后，再由采樣電路采樣被測(cè)件兩端的壓降，并經(jīng)過(guò)ADC把數(shù)字信號(hào)送給CPU做后續(xù)的數(shù)字處理。掃描功能則是在恒流源、采樣電路和測(cè)量端加入繼電器陣列(見附圖2)，在CPU的控...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。