技術(shù)編號(hào)：12904851
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及空氣顆粒物采樣技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種消除霧滴影響的顆粒物采樣器。背景技術(shù)在對(duì)氣體顆粒物采樣進(jìn)行顆粒物濃度檢測(cè)時(shí)，如果采樣氣體的濕度比較大，其中會(huì)存在微小的霧滴，霧滴的存在會(huì)給檢測(cè)的精度帶來(lái)較大的影響。在采用濾膜收集顆粒物的采樣器中，霧滴混在采樣氣體中會(huì)被濾膜捕集，即使經(jīng)過(guò)烘干也難以完全消除霧滴對(duì)采樣的影響。而采用光學(xué)法的直讀顆粒物采樣器，采樣氣體中的霧滴和顆粒物的光學(xué)特性基本相同，光學(xué)直讀模塊無(wú)法區(qū)分霧滴和顆粒物，因此霧滴會(huì)給采樣測(cè)量帶來(lái)很大影響，造成讀數(shù)大大偏離真實(shí)值。樣氣中的霧...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。