技術(shù)編號：12904326
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種基于掃描矩形黑體的熱像儀非均勻性評價校正裝置。背景技術(shù)熱像儀通過紅外輻射測溫原理獲取觀測目標(biāo)表面輻射溫度的空間分布信息，可用于實(shí)時監(jiān)測實(shí)驗(yàn)過程中目標(biāo)的發(fā)熱和傳熱。與熱電偶、熱敏電阻等其它測溫手段相比，熱像儀具有非接觸、可獲取高分辨溫度分布信息等優(yōu)點(diǎn)，但也具有測溫準(zhǔn)確性差的缺點(diǎn)。熱像儀非均勻性是指熱像儀觀察均勻黑體輻射源時不同像元輸出不一致的特性，其來源于探測器陣列、光學(xué)系統(tǒng)、讀出電路等各環(huán)節(jié)引入的不一致性。熱像儀非均勻性是熱像儀測溫誤差的重要來源，因此對熱像儀非均勻性進(jìn)行準(zhǔn)確評價，...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。