技術(shù)編號：12862385
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于透射電子顯微鏡原位測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種透射電子顯微鏡樣品桿的原位芯片固定結(jié)構(gòu)。背景技術(shù)透射電子顯微鏡是利用電子波的超短波長來顯示物體的內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的，能夠在原子尺度上對材料的形貌、結(jié)構(gòu)、成份和電子態(tài)研究，現(xiàn)代的透射電子顯微鏡已經(jīng)成為橫跨自然科學(xué)研究各領(lǐng)域的一種極其重要的研究工具。樣品桿作為透射電子顯微鏡的重要組件之一，一方面起著承載樣品的作用，另外一方面可以在樣品上面引入力、電、熱、光等實現(xiàn)透射樣品的原位觀測。透射電子顯微鏡原位測試是在電子顯微鏡中實現(xiàn)對目標(biāo)材料在一定外界條件下所...
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