技術(shù)編號：12842780
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型屬于光學(xué)元件/系統(tǒng)性能參數(shù)的檢測、光源性能參數(shù)的檢測等技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及用于透鏡系統(tǒng)光學(xué)性能參數(shù)檢測以及附帶檢測光源性能參數(shù)的檢測，特別適用于透鏡組性能參數(shù)檢測。背景技術(shù)比較傳統(tǒng)的光學(xué)測量方法是通過光學(xué)組件搭配機械結(jié)構(gòu)，由測試人員目視觀測得到結(jié)果，在數(shù)據(jù)的觀測、數(shù)據(jù)分析和計算流程方面存在著較大的誤差。由于近年來計算機技術(shù)的突飛猛進(jìn)、以及CCD、CMOS等半導(dǎo)體光電轉(zhuǎn)換傳感器和圖像采集器件的巨大進(jìn)步。光學(xué)測量步入基于圖像分析和圖像處理的階段。目前通過圖像采集、圖像處理原理進(jìn)行測量的商用光...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。