技術編號：12803761
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種高光譜異常目標檢測方法，特別是涉及一種基于結構稀疏表示和內部聚類濾波的高光譜異常目標檢測方法。背景技術高光譜異常目標檢測技術是一種不需要提供待測目標先驗光譜信息的前提下，僅利用圖像像元之間的光譜差異性進行目標檢測的高光譜目標檢測技術，在實際應用中具有較強的實用性。相對于整個高光譜圖像，異常目標不僅出現(xiàn)的概率較低，而且所占的比例也較少，傳統(tǒng)的異常目標檢測算法一般假設圖像背景服從高斯分布。在這種假設下可以利用全局或局部的統(tǒng)計特性來檢測異常目標。然而，在實際應用中由于受到空間分辨率限制，...
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