技術(shù)編號(hào)：12768532
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種電子通訊領(lǐng)域的邊界掃描測(cè)試裝置，尤其是涉及一種多工位邊界掃描并行測(cè)試系統(tǒng)。背景技術(shù)隨著電路技術(shù)進(jìn)入超大規(guī)模集成時(shí)代，超大規(guī)模集成電路的高度復(fù)雜性，以及多層印制板、表面貼裝、圓片規(guī)模集成和多芯片模塊技術(shù)在電路系統(tǒng)中的應(yīng)用，都使得電路節(jié)點(diǎn)的物理可訪問(wèn)性正逐步削弱以至于消失，電路板體積減小、元器件引腳增多和板上功能密度增加使得能夠留給探針的測(cè)試點(diǎn)大幅度縮小，傳統(tǒng)的在線測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試已無(wú)法很好地滿足這類產(chǎn)品的測(cè)試，一種新的測(cè)試技術(shù)產(chǎn)生了，聯(lián)合測(cè)試行為組織定義這種新的測(cè)試方法為邊界掃描測(cè)試...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。