技術(shù)編號：12768510
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及一種半導體器件高壓絕緣檢測裝置，屬于半導體器件檢測裝置技術(shù)領(lǐng)域。背景技術(shù)現(xiàn)有技術(shù)中，常用的半導體在使用過程中，由于半導體外表塑料破損，會出現(xiàn)漏電現(xiàn)象，這樣導致半導體使用效率較低，從而增加生產(chǎn)成本。因此，對半導體器件進行高壓通電測試半導體是否外表塑料破損，存在漏銅漏電現(xiàn)象，排除不合格品就尤為重要。發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，提供一種半導體器件高壓絕緣檢測裝置，可以檢測出漏電的半導體器件，提高半導體器件的使用效率。按照本實用新型提供的技術(shù)方案，所述半導體器件高壓...
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