技術(shù)編號(hào)：12746895
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。：本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體用分析測(cè)試設(shè)備，尤其是一種矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試裝置。背景技術(shù)：網(wǎng)絡(luò)分析儀是射頻測(cè)試工程師必不可少的測(cè)試設(shè)備。網(wǎng)絡(luò)分析儀是個(gè)有源儀器，提供了多種測(cè)試模式。在通過測(cè)量反射系數(shù)來得到阻抗的單端口測(cè)試中，網(wǎng)絡(luò)分析儀通過端口輸出快速掃頻的低功率電信號(hào)，該信號(hào)通過射頻電纜的傳輸?shù)竭_(dá)被測(cè)元件，并產(chǎn)生反射電信號(hào)。射頻信號(hào)的反射率與被測(cè)元件的阻抗有以下關(guān)系式其中,R是復(fù)反射系數(shù)，ZO是傳輸線的阻抗，Z...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。