技術(shù)編號：12659038
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于雷達技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及相控陣?yán)走_發(fā)射通道相位校準(zhǔn)測試，應(yīng)用于相控陣?yán)走_發(fā)射信號時不同發(fā)射通道間滿足相位一致性，從而便于各發(fā)射通道發(fā)射信號在空間合成雷達設(shè)計要求的波形。背景技術(shù)隨著微電子化和數(shù)字技術(shù)的飛速發(fā)展，為保證相控陣?yán)走_在探測距離、波束控制和旁瓣電平等方面達到設(shè)計指標(biāo)，目前常采用發(fā)射數(shù)字波束形成技術(shù)，它可以快速、靈活地實現(xiàn)波束掃描，并具有抗干擾能力強、可靠性好等多方面的優(yōu)點，但是，由于發(fā)射通道間相位特性的不一致，導(dǎo)致發(fā)射波束指向不正確和旁瓣抬高等問題，這就需要通過發(fā)射通道相位校準(zhǔn)來...
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