技術(shù)編號：12639803
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及超無損聲檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種帶壓力顯示的超聲波檢測用直探頭。背景技術(shù)目前國內(nèi)外超聲檢測所用的直探頭均未對探頭施加在待測工件上的壓力大小進(jìn)行檢測和控制。通過對直探頭在工件表面不同施壓的實(shí)驗(yàn)證明，缺陷波隨著施加在待測工件上壓力的增加而上升。在檢測員手持探頭檢測工件時，施加在探頭上的力不同時會導(dǎo)致回波幅度的變化。分析原因主要是由于檢測人員手壓探頭時用力不同會影響探頭與工件表面的耦合效果。如果工件表面的平整度、粗糙度、耦合劑符合檢測要求，施加在待測工件上的壓力恒定，則缺陷回波高度恒定...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。