技術(shù)編號(hào)：12562663
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及探針測(cè)試領(lǐng)域，具體是一種可調(diào)節(jié)間距的探針測(cè)試平臺(tái)。背景技術(shù)印制電路板（PCB）需要進(jìn)行一系列性能測(cè)試，包括電阻、電容、開路短路、阻抗、耐電壓、耐電流等測(cè)試，這些測(cè)試都需要采用探針進(jìn)行接觸測(cè)試。需要使用探針進(jìn)行接觸的測(cè)試項(xiàng)目，由于手動(dòng)接觸具有不穩(wěn)定性，會(huì)使測(cè)試數(shù)據(jù)發(fā)生變化。現(xiàn)有針模是在酚醛板上鉆孔固定探針，雖可代替手動(dòng)探頭，但其特點(diǎn)是探針位置固定，不可調(diào)節(jié)間距，具有局限性。發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種可調(diào)節(jié)間距的探針測(cè)試平臺(tái)，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。