技術(shù)編號：12531909
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型屬于探傷檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種超聲波探傷雙晶探頭裝置。背景技術(shù)現(xiàn)代化建設(shè)的高速發(fā)展，機(jī)械加工對工件的質(zhì)量要求也越來越高，使得加工工件的檢測技術(shù)也在蓬勃發(fā)展。其中，超聲波雙晶探頭探傷裝置由于探測范圍可調(diào)、靈敏度高、雜波少盲區(qū)小等優(yōu)點而被廣泛應(yīng)用，然而這種雙晶探頭的發(fā)射晶片與接收晶片之間距離近，發(fā)射晶片發(fā)射的超聲波有時直接被接收晶片接收，抗干擾能力弱，不是適應(yīng)現(xiàn)有社會高速發(fā)展的要求。實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種超聲波探傷雙晶探頭裝置，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。為實現(xiàn)上...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。