技術(shù)編號：1249234
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供能夠通過1次操作來進行多個校準(zhǔn)項目的。具有標(biāo)準(zhǔn)反射板（43），該標(biāo)準(zhǔn)反射板（43）在測定探針（3）插入到插入部（41a）中的狀態(tài)下配置在與測定探針（3）的前端部隔開規(guī)定距離L的位置，并且在該標(biāo)準(zhǔn)反射板（43）中，在測定對象波長范圍內(nèi)，反射率在照射面內(nèi)相同，并且反射特性穩(wěn)定，與標(biāo)準(zhǔn)反射板（43）使用規(guī)定距離L確定的空間相干長度Lsc相比，構(gòu)成標(biāo)準(zhǔn)反射板（43）的材料的散射平均自由行程較大。專利說明[0001]本發(fā)明涉及對計測與計測對象的內(nèi)部構(gòu)造有關(guān)...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。