技術(shù)編號：12471959
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于圖像處理技術(shù)領(lǐng)域。背景技術(shù)共焦掃描顯微鏡測量技術(shù)是一種用于微米及亞微米尺度測量的光學(xué)顯微技術(shù)。因其具有無需樣品制備、測量速度快、成本低、不損傷測量表面以及可直接測量高度大于半波長的臺階輪廓等優(yōu)點(diǎn)，而被廣泛用于材料學(xué)、微電子學(xué)、光學(xué)、生物工程學(xué)及醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的二/三維微尺度結(jié)構(gòu)測量。但是共焦掃描顯微鏡同樣面臨著視場較小的問題，采用圖像拼接技術(shù)在不增加儀器成本的情況下即可得到高分辨大視場的數(shù)據(jù)，使共焦掃描顯微鏡得應(yīng)用更加靈活、實(shí)用。圖像拼接面臨的第一個問題就是圖像配準(zhǔn)，由于共焦掃描顯微鏡本身分...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。