技術(shù)編號(hào)：12467021
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開總體上涉及電子電路，并且更具體地涉及用于監(jiān)測集成電路的供電電壓的電路。背景技術(shù)在許多應(yīng)用中，期望在集成電路的操作過程中對(duì)其供電電壓的偏差(variation)進(jìn)行測量。實(shí)際上，該供電電壓的偏差可能引起電路操作中的問題，以及/或者反映電路功耗，從而引起電路活動(dòng)性的偏差，以及/或者反映經(jīng)受應(yīng)力(例如，可能是有意的干擾，例如，攻擊；或者偶然的干擾，例如，靜電放電)的電路的行為。例如，出于測試的需要，經(jīng)由應(yīng)用于電路的不同位置并且連接至測量設(shè)備的探針，而對(duì)供電電壓進(jìn)行測量。從而，該測量對(duì)于由于導(dǎo)電探...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。