技術(shù)編號(hào):12465522
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光學(xué)干涉測量技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種光學(xué)玻璃的材料均勻性檢測方法及裝置。背景技術(shù)高精度光學(xué)成像鏡頭通常由多個(gè)光學(xué)透鏡組成,為了達(dá)到理想的成像質(zhì)量,要求光學(xué)鏡頭的透射波前達(dá)到衍射極限,而光學(xué)玻璃的材料均勻性是光學(xué)鏡頭透射波前誤差的主要來源之一。此外,采用零位補(bǔ)償鏡法檢測非球面鏡面形時(shí),為了獲得高精度非球面面形檢測結(jié)果,需要校正零位補(bǔ)償鏡的各種誤差源,其中就包括補(bǔ)償鏡玻璃材料均勻性對(duì)補(bǔ)償鏡非球面波前的影響。在上述應(yīng)用領(lǐng)域,光學(xué)玻璃材料均勻性的絕對(duì)檢測技術(shù)是研制高精度光學(xué)成像鏡頭和零位補(bǔ)償鏡不...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。