技術(shù)編號：12465251
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本公開涉及光檢測裝置、光檢測系統(tǒng)以及光檢測方法等。背景技術(shù)光是電磁波，除了波長、強度以外，還以偏光或干涉性等特性來表征。其中，作為對光的干涉性進行測定的方法，例如可以列舉“光學的原理”(東海大學出版社、p.482、M·玻恩等)中給出的邁克爾遜的干涉儀(Michelsoninterferometer)。發(fā)明內(nèi)容本公開的一個方式所涉及的光檢測裝置，具備：光檢測器，其具有主面，包含沿著所述主面而配置的至少1個第1檢測器以及至少1個第2檢測器；光耦合層，其配置在所述光檢測器上，包含第1低折射率層、配置在...
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