技術編號：12464666
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。一種同時測量相位和古斯-漢欣位移的方法及裝置技術領域本發(fā)明屬于物理光學領域，是一種基于光外差干涉原理，在發(fā)生表面等離子共振(surfaceplasmonresonance(SPR))效應時，利用共線光外差干涉技術，同時測量相位和古斯-漢欣位移方法及裝置。背景技術SPR效應作為一種發(fā)生在金屬與電介質(zhì)界面的物理光學現(xiàn)象，它對環(huán)境介質(zhì)折射率變化非常敏感。目前，基于SPR效應的光學傳感器已被廣泛應用于液態(tài)物質(zhì)檢測，如生化、環(huán)保監(jiān)測、藥品研制和食品安全等領域，并在基因突變檢測、生物分子反應動力學測定以及工...
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