技術(shù)編號：12463793
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種檢測方法及檢測裝置，尤其涉及一種對閃存進行智能檢測的方法及檢測裝置。背景技術(shù)閃存具有如下特性：(1)數(shù)據(jù)保持特性：保存在閃存上的數(shù)據(jù)并不是可以永久保存的。隨著時間的推移，因閃存浮柵極(floatgate)中的電子會丟失或者增多，從而導(dǎo)致閃存上的數(shù)據(jù)發(fā)生錯誤。時間越長，發(fā)生錯誤的數(shù)據(jù)越多。另外該特性跟閃存的編程和擦除(program/erase)次數(shù)有很大關(guān)系，編程和擦除次數(shù)也稱為讀寫/擦除次數(shù)，讀寫/擦除次數(shù)的值越大，相同時間內(nèi)發(fā)生錯誤的數(shù)據(jù)越多；(2)讀取干擾(Readdistu...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。