技術(shù)編號(hào):12456652
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及輸變電設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種適用于局放UHF傳感器檢測(cè)的GTEM小室。背景技術(shù)采用GTEM(吉赫茲?rùn)M電磁波室)小室進(jìn)行電磁測(cè)試是近些年國(guó)際電磁領(lǐng)域發(fā)展的一項(xiàng)新技術(shù)。由于GTEM小室工作頻率極寬(從直流到3GHz以上),造價(jià)低(遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于電波暗室的造價(jià))。既可以用于電磁兼容輻射靈敏度試驗(yàn)(EMS試驗(yàn),也稱(chēng)抗擾度試驗(yàn)),又可用于電磁輻射試驗(yàn)(EMI試驗(yàn)),而且所用儀器配置簡(jiǎn)單、成本便宜,可用于快速和自動(dòng)測(cè)試的特點(diǎn),所以越來(lái)越受到國(guó)際和國(guó)內(nèi)有關(guān)人士的重視。目前在射頻測(cè)試中GTEM小室對(duì)小體...
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