技術(shù)編號(hào)：12446106
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光學(xué)鏡頭技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種熱成像鏡頭軸外響應(yīng)的檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法。背景技術(shù)隨著非制冷探測(cè)器技術(shù)的成熟，長(zhǎng)波紅外非制冷光學(xué)系統(tǒng)得到越來越廣泛的應(yīng)用。一般的熱成像鏡頭的成像質(zhì)量除了由調(diào)制傳遞函數(shù)(ModulationTransferFunction，MTF)等設(shè)計(jì)指標(biāo)決定之外，還有一項(xiàng)重要的決定因素就是雜光輻射。所謂雜光輻射，是指在光學(xué)系統(tǒng)中，除了目標(biāo)光線外，擴(kuò)散于探測(cè)器表面的其他非目標(biāo)光線能量以及經(jīng)過非正常光路到達(dá)探測(cè)器的目標(biāo)光線能量。雜光輻射會(huì)導(dǎo)致像面上的輻照度不均勻，像面上的物體...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。