技術(shù)編號：12360216
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及顯微鏡領(lǐng)域，具體是一種用于ICF的掠入射KBA顯微鏡系統(tǒng)。背景技術(shù)1896年X射線發(fā)現(xiàn)不久，人們就開始用X射線直接照射物體，采用接觸式輻射計量方法來獲得X射線圖像。然而，X射線成像和探測技術(shù)的進一步發(fā)展卻遇到了嚴重的障礙。其主要原因在于X射線波長很短，通常為幾個埃到幾百個埃比可見光波長短1～4個數(shù)量級。X射線在空氣中又強烈地被吸收，因此，找到合適于不同應用領(lǐng)域的X射線源、成像元件和相應的探測器件是很困難的。而且，X射線在光滑的表面上幾乎不反射，只有在掠入射的情況下才顯示出可用的反射率。...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。