技術(shù)編號(hào)：12358904
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于原子力顯微鏡的測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種原子力顯微鏡探針針尖修飾方法。背景技術(shù)隨著材料領(lǐng)域的技術(shù)發(fā)展，探究材料表面微觀形貌以及微觀特性變得越來越重要，借助掃描探針顯微鏡可以獲得原子級(jí)分辨率的圖像。原子力顯微鏡（AFM）作為掃描探針顯微鏡的一種，利用其探針針尖原子與樣品表面原子之間的吸引力和排斥力來獲得高分辨率圖像，AFM不僅僅是樣品表面高分辨率成像的一種工具，還可以應(yīng)用于獲得原子力與距離的關(guān)系曲線，簡(jiǎn)稱力曲線。它能提供材料表面的局部性能，如彈性、硬度、粘附力和表面電荷密度等有價(jià)值信息。...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。