技術編號：12269137
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及光子測量領域，具體地，涉及一種用于測量高能光子到達時間的方法及裝置。背景技術在高能光子(例如X射線、伽瑪光子等)檢測領域，檢測器系統(tǒng)一般由閃爍晶體、光電傳感器和讀出電路等部件組成。下面以正電子發(fā)射成像系統(tǒng)為例進行描述。在正電子發(fā)射成像系統(tǒng)中，閃爍晶體，例如鍺酸鉍(BGO)、硅酸釔镥(LYSO)、溴化鑭(LaBr3)等，可以將伽瑪光子轉變?yōu)榭梢姽庾尤?。光電傳感器，例如光電倍增?PMT)、硅光電倍增管(SiPM)、雪崩光電二極管(APD)等，可以將可見光子群的光信號轉變?yōu)殡娦盘?。讀出電路...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。