技術(shù)編號(hào)：12268913
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及磁場探測領(lǐng)域，特別涉及一種磁場探測構(gòu)件和探測裝置。背景技術(shù)在解決EMI(電磁干擾)問題時(shí)，常常需要用近場探頭尋找具體的輻射源，因?yàn)殚_始不確定是哪個(gè)區(qū)域產(chǎn)生的輻射，需要先用大圈的磁場探頭確定一個(gè)大概的區(qū)域，然后再換成小圈的磁場探頭進(jìn)一步縮小區(qū)域，以此類推，直到找到輻射源，所以近場磁場探測需要一組大小不同的探頭。由于要不停的更換探頭，增加了繁瑣性，而且一組好幾個(gè)探頭不易保管、易丟失、成本也高。普通的近場磁場探頭，探頭的探圈大小固定，而大的探圈只能大概確定輻射源，不精確；而小的探圈在不確定大...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。