技術(shù)編號(hào)：12265217
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及精密測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種三維激光掃描測(cè)頭。背景技術(shù)測(cè)頭是精密量?jī)x的關(guān)鍵部件之一，作為傳感器提供被測(cè)工件的幾何位置信息，測(cè)頭的發(fā)展水平直接影響著精密量?jī)x的測(cè)量精度與測(cè)量效率。精密測(cè)頭通常分為接觸式測(cè)頭與非接觸式測(cè)頭兩種，其中接觸式測(cè)頭又分為機(jī)械式測(cè)頭、觸發(fā)式測(cè)頭和掃描式測(cè)頭。機(jī)械式測(cè)頭因?yàn)槭鞘謩?dòng)測(cè)量，且精度不高，測(cè)量效率低，因此目前很少用于工業(yè)測(cè)量領(lǐng)域。當(dāng)前工業(yè)領(lǐng)域廣泛使用的精密測(cè)頭是觸發(fā)式測(cè)頭，其原理是當(dāng)測(cè)頭測(cè)端與被測(cè)工件接觸時(shí)精密量?jī)x發(fā)出采樣脈沖信號(hào)，并通過儀器的處理系統(tǒng)鎖存此...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。