技術(shù)編號(hào):12248428
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種探針,特別是一種外置彈簧雙頭探針。背景技術(shù)探針主要類(lèi)型:懸臂探針和垂直探針,根據(jù)電子測(cè)試用途可分為:A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路、短路檢測(cè)探針,國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;B、在線測(cè)試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針,高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,但國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;C、微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針?,F(xiàn)有常用的探針一般包括針軸、內(nèi)管和彈簧,針軸與內(nèi)管、彈簧鉚...
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該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。