技術(shù)編號：12194596
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及探測裝置領(lǐng)域，具體而言，涉及一種X射線熒光探測裝置。背景技術(shù)隨著X射線熒光技術(shù)的不斷完善，帶動X射線熒光光譜儀設(shè)備的發(fā)展。作為一種快速、準(zhǔn)確、經(jīng)濟、無損的物質(zhì)元素組成分析方法，已被廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、建材、礦勘、石油、化工、電氣、生物、醫(yī)療、刑偵、考古、奢侈品鑒定等諸多領(lǐng)域。樣品探測裝置是X射線熒光光譜儀中的重要部件?，F(xiàn)有技術(shù)中的探測裝置，其樣品倉采用一體式固定平面結(jié)構(gòu)測試面板和固定不可調(diào)的定位系統(tǒng)進行檢測，對待測樣品表觀形貌要求較高，僅適用于平面形態(tài)的待測樣品。而對于特殊非平面...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。