技術(shù)編號：12173353
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及物位測量。本發(fā)明尤其涉及一種具有干擾信號檢測模式的物位測量裝置、一種防止物位雷達受干擾影響的方法、一種程序單元以及一種計算機可讀介質(zhì)。背景技術(shù)物位測量裝置以及特別是物位雷達裝置朝向填充材料表面發(fā)射傳輸信號，且填充材料表面反射所述信號。接著，可以通過物位測量裝置評估由填充材料表面反射的傳輸信號(在下文中被稱為接收信號)。作為該評估的一部分，可以根據(jù)接收信號中包含的物位回波來確定物位，其中該回波是被填充材料表面反射的傳輸信號的信號分量。取決于所發(fā)射的傳輸信號的強度、填充材料表面的屬性以及諸...
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