技術(shù)編號(hào)：12131085
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于D觸發(fā)器技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種抗單粒子翻轉(zhuǎn)的D觸發(fā)器。背景技術(shù)宇宙空間中存在大量高能粒子(質(zhì)子、電子、重離子等)，集成電路中的時(shí)序電路受到這些高能粒子轟擊后，其保持的狀態(tài)有可能發(fā)生翻轉(zhuǎn)，此效應(yīng)稱為單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)，單粒子轟擊集成電路的LET(線性能量轉(zhuǎn)移)值越高，越容易產(chǎn)生單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)。集成電路中的組合電路受到這些高能粒子轟擊后，有可能產(chǎn)生瞬時(shí)電脈沖，此效應(yīng)稱為單粒子瞬態(tài)效應(yīng)，單粒子轟擊集成電路的LET值越高，產(chǎn)生的瞬時(shí)電脈沖持續(xù)時(shí)間越長，電脈沖越容易被時(shí)序電路采集。如果時(shí)序電路的狀態(tài)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。