技術(shù)編號：12120244
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種應(yīng)用于FPGA數(shù)字電路的冗余容錯技術(shù)，能有效減弱短溝道效應(yīng)的影響，特別適用于FPGA數(shù)字電路的邏輯電路部分動態(tài)可重構(gòu)技術(shù)。背景技術(shù)由于太空環(huán)境中存在大量復(fù)雜的高能粒子，它們做無規(guī)則的隨機(jī)運行，難免會與宇航設(shè)備中的半導(dǎo)體器件發(fā)生碰撞。當(dāng)這些高能粒子撞擊到器件中的敏感區(qū)域時，容易引起短溝道效應(yīng)，從而改變器件的功能。SRAM型FPGA中的邏輯資源配置存儲單元對短溝道效應(yīng)十分敏感，極易發(fā)生配置位流信息的變化，而FPGA的配置存儲器中的內(nèi)容決定了FPGA的頂層電路結(jié)構(gòu)，與FPGA的功能息息相...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
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