技術(shù)編號：12074500
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種醫(yī)用光學(xué)儀器，特別涉及一種用于眼軸長度測量的光學(xué)相位延遲器。背景技術(shù)眼軸長度的測量是基于光干涉的原理或者是超聲檢測，光干涉方法可以實現(xiàn)非接觸、高分辨率和快速等特點，而超聲方式需要接觸眼睛，分辨率低，超聲探頭是有壓力給眼睛都會造成測量結(jié)果的精度無法保障。光干涉方法中，采用部分相干或低相干干涉技術(shù)，光源采用有一定帶寬的空間相干良好的光源，在干涉測量方面，參考臂與樣品臂的光學(xué)位相在小于光源的相干長度內(nèi)才可以實現(xiàn)干涉。為了實現(xiàn)眼軸長度的測量，需要一個沿著軸向掃描的光學(xué)相位延遲線，匹配參考臂...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。