技術(shù)編號(hào):12061845
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種超導(dǎo)平面磁梯度計(jì)。背景技術(shù)高靈敏度磁強(qiáng)計(jì)在科學(xué)研究、國防軍工、工業(yè)生產(chǎn)以及醫(yī)療等領(lǐng)域都發(fā)揮著重要作用。然而在大多數(shù)應(yīng)用場合,實(shí)際待測(cè)信號(hào)比背景噪聲信號(hào)低好幾個(gè)數(shù)量級(jí),因此,在無屏蔽的環(huán)境中需要采用梯度計(jì)的形式消除遠(yuǎn)距離噪聲源對(duì)實(shí)際信號(hào)源造成的影響。目前,超低磁場平面梯度的探測(cè)主要采用超導(dǎo)量子干涉器件(SQUID)與磁場梯度線圈組合而成的SQUID平面磁梯度計(jì)進(jìn)行測(cè)量。傳統(tǒng)的SQUID平面磁梯度計(jì)的梯度線圈是將一閉合超導(dǎo)環(huán)路繞制成兩個(gè)面積相等繞向相反的環(huán)路組成的。當(dāng)有外磁場穿過梯度線...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。